台式XRF射线荧光分析仪X-Strata920
详细信息
| | 品牌：英国牛津仪器Oxford | | 加工定制：否 | | 型号：X-Strata920 | |
| | 类型：激光 | | 显示方式：数显 | | | |
深圳市方源仪器有限公司—英国牛津仪器指定中国总代理商!射线荧光分析仪X-Strata920 是一款低成本高效率、快速可靠的镀层厚度测量及材料分析设备。利用X射线荧光（XRF）进行镀层厚度测量和材料分析，提高过程和质量控制。
X-Strata镀层测厚仪是结构紧凑、坚固耐用、用于质量控制的可靠的台式X射线荧光分析设备，提供简单、快速、无损的镀层厚度测量和材料分析。
X-Strata920 在工业领域如电子行业、五金电镀行业、金属合金行业及贵金属分析行业表现出卓越的分析能力，可进行多镀层厚度的测量。
技术参数：
三种配置选项
固定样品台
样品台位置固定
经济、实用
平面样品台设计，适合高
度不超过1.3"(33mm)的样
品分析 |
加深样品台
高度每英寸(25.4mm)可
调，架构式样品舱可容纳
*大高度6.3"(160mm)的
样品 |
程控样品台
用于自动化测量
方便根据测试位置放置样品，
并精准定位测量点
样品台尺寸：22"(D) x 24"(w)，即560mm (深) x 610mm (宽)
程控台移动距离：7" x 7"，
即178mm x 178mm |
仪器特点：
快速、精确的分析：大面积正比计数探测器和牛津仪器50瓦微聚焦X射线光管（X射线光束强度大、斑点小，样品激发佳）相结合，提供*佳灵敏度
简单的元素区分：通过次级射线滤波器分离元素的重叠光谱
性能优化，可分析的元素范围大：X-Strata920 预置800多种容易选择的应用参数/方法
卓越的长期稳定性：
自动热补偿功能测量仪器温度变化并做修正，确保稳定的测试结果
例行进行简单快 速的波谱校 准，可自 动检查仪器性能（例如灵敏性）并进行必要的修正
坚固耐用的设计
可在实验室或生产线上操作
坚固的工业设计
运用领域行业：
电子行业
电子、电气原件
有效控制生产过程，提高生产力
确保元件可靠性
同时测量焊料合金成份和镀层厚度
优化质量控制，确保产品生命期
例如：
分析导电性镀层金和钯的厚度
测量电脑硬盘上的NiP层厚度
五金电镀行业
电镀处理的成本*小化，产量*大化
快速简单的分析
同时进行单层或多层镀层厚度测量及成份分析
*多可分析4层镀层
镀液成份分析
金属合金行业
金属合金成份分析和牌号认定
珠宝及其他合金的快速无损分析
贵金属合金分析
黄金纯度分析
材料鉴定
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