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- 方源测厚仪
详细信息
涂层测厚仪
产品型号: CM-8821
功能: 测量铁磁性金属基体上的非导磁涂层的厚度测量范围： 0-1000um/0-40mil (标准量程)*小曲面:F: 凸1.5mm/ 凹 25mm N: 凸 3mm/ 凹 50mm分辨率: 0.1 um (小于100um)1 um (大于100um)*小测量面积：6mm*薄基底： 0.3mm公制/英制： 可选择电池电压指示：低电压提示自动关机使用环境：温度：0-40℃ 湿度：10-90%RH准确度: ±1~3%n 或 ±2.5um电源: 4节5号电池外形尺寸: 161x69x32 mm重量： 210g（不含电池）涂层测厚仪可选附件: 可定制量程（大量程传感器）可选:0~200um to 18000um
应用:测量钢、铁等磁性金属基体上的非铁磁性涂层、镀层，例如：漆、粉末、塑料、橡胶、合成材料、磷化层、铬、锌、铅、铝、锡、镉、瓷、珐琅、氧化层等。相关产品- L200薄膜测厚仪
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